커넥터 신뢰성 평가 – 고주파 특성 테스트 –

고주파 특성도 신호 품질을 지원하는 신뢰성의 하나로서 신뢰성 실험실의 수비 범위가 되고 있습니다. 기술 부문에서 실시하는 CAE의 결과와의 교대 등 관련 부서와 밀접하게 연계를 취하면서 최신의 고속 전송에 대응한 제품 개발을 지원하고 있습니다. 주요 보유 설비는 다음과 같습니다.

샘플링 오실로스코프

TDR(Time Domein Reflectometly), TDT(Time Domein Transmissometry) 방법에 의한 특성 임피던스 측정을 실시. 입력 2ch, 출력 2ch에서 LVDS 신호 형식에 의한 차동 전송, 싱글 엔드 신호 전송에 대응. 외부 펄스 발생기를 이용한 아이 패턴 확인 시험에 대응. I Connect를 통한 신호 무결성 시뮬레이션 지원.

네트워크 분석기

측정 대상(DUT)의 통과, 반사하는 고주파 신호의 주파수 특성을 S 파라미터로 측정. 입력·출력 각 2포트, 총 4포트에서 LVDS 신호 형식에 의한 차동 전송에 대응. PLTS(물리층 테스트 시스템)를 이용한 De-embedding에 의한 커넥터 영역의 추출이 가능. 외부 시뮬레이션용 터치스톤 데이터 생성 가능.

고성능 시리얼 BERT

NRZ 포맷(일반, 반전 가능)에 의한 펄스 패턴(임의, PRBS7 등) 생성. 범위 내 레벨에 따른 출력 특성의 변경 가능.

전자기장 스캐너 시스템

전자 기판을 따라 프로브를 자동으로 주사하여 발생하는 노이즈의 주파수 및 강도를 측정하고, 본체 카메라로 촬영한 위치 정보와 중첩하여 매핑함으로써 전계·자계 노이즈의 발생원을 가시화할 수 있다.

전자기장 측정

10103 시리즈(실드 포함) 측정

10103 시리즈(실드 없음) 측정