连接器可靠性评估–高频特性测试–

高频特性也是可靠性实验室的防御范围，它是支持信号质量的可靠性之一。根据技术部门实施的CAE的结果进行研究，与相关部门密切合作，支持最新高速传输的产品开发。主要设备包括:。

采样示波器

通过时域反射 (TDR) 和时域传输 (TDT) 方法测量特性阻抗。它对应于输入2ch和输出2ch的LVDS信号格式的差分传输和单端信号传输。它对应于使用外部脉冲发生器的眼图确认测试。支持I Connect信号完整性仿真。

网络分析仪

测量通过和反射的高频信号 (DUT) 的频率特性作为S参数。输入/输出每个2个端口，总共4个端口支持LVDS信号格式的差分传输。可利用基于PLTS (物理层测试系统) 的De-embedding提取连接器区域。可以生成用于外部模拟的触摸屏数据。

高性能串行BERT

通过NRZ格式(正常，可翻转)生成脉冲图案(可选，PRBS7等)。可根据范围内的级别更改输出特性。

电磁扫描系统

通过沿着电子基板自动扫描探针，测量产生的噪声的频率和强度，并将其与主体相机拍摄的位置信息重叠并进行映射，可以可视化电场和磁场噪声的来源。

电磁场测量

10103系列 (屏蔽) 测量

10103系列 (无屏蔽) 测量