コネクタの信頼性評価 – 分析・解析 –

予期せぬトラブルの原因解析、製品の出来栄えに対するミクロな視点での観測・解析も信頼性実験室の重要な仕事になります。付着した異物や製品の表面状態など、分析解析する物は様々です。代表的な装置をご紹介します。

電界放射型走査電子顕微鏡システム（FE–SEM／EDX）

金属系試料表面の観察，元素分析に活用。軽元素からの分析が可能で、酸化，塩化，硫化，炭化の腐食媒体の分析（判定）も可能。

走査電子顕微鏡システム（SEM/EDX）

金属系試料表面の観察，元素分析に活用。軽元素からの分析が可能で、酸化，炭化，塩化，硫化の腐食媒体の分析（判定）も可能。

顕微FT-TRシステム

有機系化合物（樹脂、オイル、接着剤等）の分析に活用しており、試料の形状としては、個体・液体・粉体でも可能。また、フラックス，洗浄液等の有機系の残渣調査にも威力を発揮。

回転式ミクロトーム

薄膜試料作製、断面研磨等に活用。

ケイ光X線微小部膜厚計

各種コネクタ用端子／ピン等に施されためっきの厚さ及び、成分比を測定。また、簡単な元素分析も可能。